低(di)エネルギーγ線(線)を効(効)率(lv)良(liang)く測(測)定するため検(検)出窓を薄(bo)くし、さらにバックグラウンドを低(di)くするためにＮａＩ（Ｔｌ）シンチレータを薄(bo)くした検(検)出器を使(shi)用(yong)しています。
この検(検)出器により通常のサーベイメータでは困難な¹²⁵Iの表(biao)面汚染(ran)を容(rong)易(yi)に検(検)出することが可(ke)能(neng)になりました。

測(測)定線(線)種(種)	γ（Ｘ）線(線)
検(検)出器	ＮａＩ（Ｔｌ）シンチレーション検(検)出器
エネルギー範囲	20～45keV
検(検)出限界(jie)	^１２５Ｉにて點(dian)汚染(ran)に対(対)して約(約)2.5Bq（Φ50mm面汚染(ran)に対して約(約)0.17Bq／cm²）^※１
測(測)定レンジ	アナログ表(biao)示(shi) 　　0～10，30，100，300，1k，3k，10ks^-1　（7段(duan)切(qie)換　リニア目盛）デジタル表示(shi) 　計(計)數(shu)率：0～99.9s^-1、100～999s^-1、1.00～9.99ks^-1 　計(計)數(shu)：0～999999counts
時(時)定數(shu)	3,10,30秒
電(電)源(yuan)	壹(yi)次(ci)電(電)池(chi)　：　単2形(xing)アルカリ乾(qian)電(電)池(chi)×4 または二次(ci)電(電)池(chi)　：　リチウムイオン二次(ci)電(電)池(chi)（専(専)用(yong)充(chong)電(電)器が必要です）^※２またはＡＣアダプタ（AC100V）^※２
電(電)池(chi)壽命	連続(続)100時(時)間(間)以上(shang)（壹(yi)次(ci)電(電)池(chi)）連続(続)25時(時)間(間)以上(shang)（二次(ci)電(電)池(chi)）^※２
外形(xing)寸(cun)法(fa)	約(約)（W）11×（D）21×（H）18 cm
質(質)量	約(約) 1.6kg（検(検)出器、壹(yi)次(ci)電(電)池(chi)含む）

※１　算出條件：時(時)定數(shu)30s、線(線)源(yuan)～検(検)出器距離5mm（弊(bi)社(she)工(gong)場BGでの実測(測)値(値)：保(bao)証(証)値(値)ではありません）
※２　二次(ci)電(電)池(chi)、専(専)用(yong)充(chong)電(電)器、ＡＣアダプタはオプションです。

：王(wang)

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簡要(yao)描(miao)述(shu)：ALOKA 阿洛(luo)卡 表(biao)面汙染 TCS-173C 閃(shan)爍體巡測儀(yi) γ射(she)線（碘-125）

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